◈ 용도 

  •  초미세 탐침(cantilever)을 시료 표면에 가까이 가져갔을 때 발생하는 원자 간 상호 작용력을 측정하는 기기로 

     원자지름의 수 십 분의 일(0.01nm)까지 측정이 가능하고 미세한 시료 표면형상을 3차원적으로 측정할 수 있음.

 

◈ 사양  

  • AFM 스테이지 / 헤드 / 스캐너  

    - 최대 샘플 사이즈 : 50mm x 50mm ( 두께 : 최대 20mm )   

    - 최대 샘플 중량 : 500 g    

    - 샘플 이동거리(XY) : 최대 20mm x 20mm ( 고정밀 모터 스테이지 ) 

    - 수직(Z) 스캐너 측정 영역 : 최대 15 um  

  • 캔틸레버 진동 주파수 : 최대 3MHz 

  • 측정 기능 : Contact AFM, Dynamic Contact AFM, True Non-contact AFM, LFM, 

                    Phase Imaging, Force vs. Distance curve, Conductive AFM, 

                    I/V Spectroscopy, EFM DC-EFM, SKPM, PFM, MFM, Heating Stage.

 

◈ Cantilever 비용 별도 문의