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FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)07:00~08:00[승인]
- 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)
- 예약일시2023-09-19 07:00:00 ~
2023-09-19 08:00:00 [승인]
- 예약자정재윤 (한국생산기술연구원)
- 실험목적
- 창닫기
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FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)09:00~10:00[승인]
- 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)
- 예약일시2023-09-19 09:00:00 ~
2023-09-19 10:00:00 [승인]
- 예약자권순재 ((주)그린첨단소재)
- 실험목적
- 창닫기
-
X선 회절분석기(HT-XRD)10:00~22:00[대기]
- 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD)
- 예약일시2023-09-19 10:00:00 ~
2023-09-19 22:00:00 [대기]
- 예약자양재열 (연화신소재)
- 실험목적
- 창닫기
-
FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)10:00~12:00[승인]
- 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)
- 예약일시2023-09-19 10:00:00 ~
2023-09-19 12:00:00 [승인]
- 예약자황경수 (인하대학교 산학협력단)
- 실험목적
- 창닫기
-
C/S분석기10:00~12:00[대기]
- 장비명[분석용]C/S분석기
- 예약일시2023-09-19 10:00:00 ~
2023-09-19 12:00:00 [대기]
- 예약자권순재 ((주)그린첨단소재)
- 실험목적
- 창닫기
-
백금 코팅기11:00~20:00[대기]
- 장비명[분석용]백금 코팅기
- 예약일시2023-09-19 11:00:00 ~
2023-09-19 20:00:00 [대기]
- 예약자허성규 (한국희소금속산업기술센터)
- 실험목적
- 창닫기
-
FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)14:00~17:00[승인]
- 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)
- 예약일시2023-09-19 14:00:00 ~
2023-09-19 17:00:00 [승인]
- 예약자함승훈 (신영금속(주))
- 실험목적
- 창닫기
-
ONH분석기14:00~18:00[대기]
- 장비명[분석용]ONH분석기
- 예약일시2023-09-19 14:00:00 ~
2023-09-19 18:00:00 [대기]
- 예약자권순재 ((주)그린첨단소재)
- 실험목적
- 창닫기
-
FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)17:00~23:00[승인]
- 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)
- 예약일시2023-09-19 17:00:00 ~
2023-09-19 23:00:00 [승인]
- 예약자정재윤 (한국생산기술연구원)
- 실험목적
- 창닫기
-
X선 회절분석기(HT-XRD)22:00~00:00[대기]
- 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD)
- 예약일시2023-09-19 22:00:00 ~
2023-09-20 00:00:00 [대기]
- 예약자정재윤 (한국생산기술연구원)
- 실험목적
- 창닫기
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등방압분말성형기09:00~18:00[대기]
- 장비명[공정용]등방압분말성형기
- 예약일시2023-09-25 09:00:00 ~
2023-09-25 18:00:00 [대기]
- 예약자백소현 (한국생신기술연구원)
- 실험목적
- 창닫기
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FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)10:00~12:00[승인]
- 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)
- 예약일시2023-09-25 10:00:00 ~
2023-09-25 12:00:00 [승인]
- 예약자김창형 (PIMS)
- 실험목적
- 창닫기
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X선 회절분석기(HT-XRD)11:00~13:00[대기]
- 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD)
- 예약일시2023-09-25 11:00:00 ~
2023-09-25 13:00:00 [대기]
- 예약자박상민 (한국희소금속산업기술센터)
- 실험목적
- 창닫기
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FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)12:00~16:00[승인]
- 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)
- 예약일시2023-09-25 12:00:00 ~
2023-09-25 16:00:00 [승인]
- 예약자김종태 (한국생산기술연구원)
- 실험목적
- 창닫기
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X-선 형광분석기14:00~17:00[대기]
- 장비명[분석용]X-선 형광분석기
- 예약일시2023-09-25 14:00:00 ~
2023-09-25 17:00:00 [대기]
- 예약자최성민 (한국희소금속산업기술센터)
- 실험목적
- 창닫기
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X선 회절분석기(HT-XRD)14:00~16:00[대기]
- 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD)
- 예약일시2023-09-25 14:00:00 ~
2023-09-25 16:00:00 [대기]
- 예약자차지민 (한국생산기술연구원)
- 실험목적
- 창닫기
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FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)16:00~17:00[대기]
- 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)
- 예약일시2023-09-25 16:00:00 ~
2023-09-25 17:00:00 [대기]
- 예약자차지민 (한국생산기술연구원)
- 실험목적
- 창닫기
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FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)17:00~21:00[대기]
- 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)
- 예약일시2023-09-25 17:00:00 ~
2023-09-25 21:00:00 [대기]
- 예약자배장현 (한국생산기술연구원)
- 실험목적
- 창닫기
-
X선 회절분석기(HT-XRD)18:00~20:00[대기]
- 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD)
- 예약일시2023-09-25 18:00:00 ~
2023-09-25 20:00:00 [대기]
- 예약자정재윤 (한국생산기술연구원)
- 실험목적
- 창닫기
-
X선 회절분석기(HT-XRD)20:00~02:00[대기]
- 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD)
- 예약일시2023-09-25 20:00:00 ~
2023-09-26 02:00:00 [대기]
- 예약자백소현 (한국생산기술연구원)
- 실험목적
- 창닫기
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FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)21:00~23:00[대기]
- 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)
- 예약일시2023-09-25 21:00:00 ~
2023-09-25 23:00:00 [대기]
- 예약자정재윤 (한국생산기술연구원)
- 실험목적
- 창닫기
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