장비예약현황

HOME
기업지원
장비사용
장비예약현황

연도선택

장비예약현황

장비예약현황
일자	요일	예약현황
2024-10-01	화	FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)09:00~14:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2024-10-01 09:00:00 ~ 2024-10-01 14:00:00 [대기] 예약자배성욱 (한국생산기술연구원) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)14:00~18:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2024-10-01 14:00:00 ~ 2024-10-01 18:00:00 [대기] 예약자백소현 (한국생산기술연구원) 실험목적
2024-10-02	수	X-선 형광분석기09:00~15:00[대기] 장비명[분석용]X-선 형광분석기 예약일시2024-10-02 09:00:00 ~ 2024-10-02 15:00:00 [대기] 예약자배성욱 (한국생산기술연구원) 실험목적 ONH분석기09:00~13:00[대기] 장비명[분석용]ONH분석기 예약일시2024-10-02 09:00:00 ~ 2024-10-02 13:00:00 [대기] 예약자정해철 (인공장기연구소) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)10:00~12:00[승인] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2024-10-02 10:00:00 ~ 2024-10-02 12:00:00 [승인] 예약자권순재 ((주)그린첨단소재) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)12:00~14:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2024-10-02 12:00:00 ~ 2024-10-02 14:00:00 [대기] 예약자김율희 (한국생산기술연구원) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)14:00~17:00[승인] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2024-10-02 14:00:00 ~ 2024-10-02 17:00:00 [승인] 예약자함승훈 (신영금속(주)) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)15:00~18:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2024-10-02 15:00:00 ~ 2024-10-02 18:00:00 [대기] 예약자김수성 (희소금속산업기술센터) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)18:00~23:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2024-10-02 18:00:00 ~ 2024-10-02 23:00:00 [대기] 예약자유용연 (한국생산기술연구원) 실험목적
2024-10-03	목	FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)14:00~16:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2024-10-03 14:00:00 ~ 2024-10-03 16:00:00 [대기] 예약자백소현 (한국생산기술연구원) 실험목적
2024-10-04	금	직류 자화특성 측정장치10:00~18:00[대기] 장비명[분석용]직류 자화특성 측정장치 예약일시2024-10-04 10:00:00 ~ 2024-10-04 18:00:00 [대기] 예약자김지수 (포스코어) 실험목적 X-선 형광분석기11:00~14:00[대기] 장비명[분석용]X-선 형광분석기 예약일시2024-10-04 11:00:00 ~ 2024-10-04 14:00:00 [대기] 예약자배성욱 (한국생산기술연구원) 실험목적 이온밀링기, 이온빔단면가공기(Cross Section Polisher)13:00~15:00[대기] 장비명[분석용]이온밀링기, 이온빔단면가공기(Cross Section Polisher) 예약일시2024-10-04 13:00:00 ~ 2024-10-04 15:00:00 [대기] 예약자정혜영 (신성씨앤티) 실험목적 C/S분석기13:00~16:00[대기] 장비명[분석용]C/S분석기 예약일시2024-10-04 13:00:00 ~ 2024-10-04 16:00:00 [대기] 예약자원경운 (인하대학교) 실험목적 ONH분석기14:00~17:00[대기] 장비명[분석용]ONH분석기 예약일시2024-10-04 14:00:00 ~ 2024-10-04 17:00:00 [대기] 예약자원경운 (인하대학교) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)15:00~17:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2024-10-04 15:00:00 ~ 2024-10-04 17:00:00 [대기] 예약자진서연 (주식회사 포스코어) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)17:00~18:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2024-10-04 17:00:00 ~ 2024-10-04 18:00:00 [대기] 예약자Ammad Ali (KITECH) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)18:00~23:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2024-10-04 18:00:00 ~ 2024-10-04 23:00:00 [대기] 예약자유용연 (한국생산기술연구원) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)22:00~00:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2024-10-04 22:00:00 ~ 2024-10-05 00:00:00 [대기] 예약자조이현 ((주)하이덴코코리아) 실험목적
2024-10-05	토	FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)14:00~17:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2024-10-05 14:00:00 ~ 2024-10-05 17:00:00 [대기] 예약자김율희 (한국생산기술연구원) 실험목적
2024-10-06	일
2024-10-07	월	C/S분석기09:00~15:00[대기] 장비명[분석용]C/S분석기 예약일시2024-10-07 09:00:00 ~ 2024-10-07 15:00:00 [대기] 예약자주원 (한국생산기술연구원) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)10:00~13:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2024-10-07 10:00:00 ~ 2024-10-07 13:00:00 [대기] 예약자양현주 ((주)하이덴코코리아) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)13:00~10:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2024-10-07 13:00:00 ~ 2024-10-08 10:00:00 [대기] 예약자정주리 (한국생산기술연구원) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)13:00~16:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2024-10-07 13:00:00 ~ 2024-10-07 16:00:00 [대기] 예약자김율희 (한국생산기술연구원) 실험목적 휴대용 X선 형광분석기13:00~14:00[대기] 장비명[분석용]휴대용 X선 형광분석기 예약일시2024-10-07 13:00:00 ~ 2024-10-07 14:00:00 [대기] 예약자김수성 (국가희소금속센터) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)16:00~20:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2024-10-07 16:00:00 ~ 2024-10-07 20:00:00 [대기] 예약자유용연 (한국생산기술연구원) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)22:00~23:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2024-10-07 22:00:00 ~ 2024-10-07 23:00:00 [대기] 예약자양현주 ((주)하이덴코코리아) 실험목적
2024-10-08	화	X선 회절분석기(HT-XRD)09:00~00:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2024-10-08 09:00:00 ~ 2024-10-09 00:00:00 [대기] 예약자김명윤 (한국나노오트) 실험목적 ONH분석기09:00~13:00[대기] 장비명[분석용]ONH분석기 예약일시2024-10-08 09:00:00 ~ 2024-10-08 13:00:00 [대기] 예약자주원 (한국생산기술연구원) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)10:00~11:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2024-10-08 10:00:00 ~ 2024-10-08 11:00:00 [대기] 예약자권순재 ((주)그린첨단소재) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)11:00~15:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2024-10-08 11:00:00 ~ 2024-10-08 15:00:00 [대기] 예약자김율희 (한국생산기술연구원) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)15:00~17:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2024-10-08 15:00:00 ~ 2024-10-08 17:00:00 [대기] 예약자김진석 (주식회사 포스코어) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)17:00~18:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2024-10-08 17:00:00 ~ 2024-10-08 18:00:00 [대기] 예약자Ammad Ali (KITECH) 실험목적
2024-10-09	수	FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)14:00~18:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2024-10-09 14:00:00 ~ 2024-10-09 18:00:00 [대기] 예약자백소현 (한국생산기술연구원) 실험목적
2024-10-10	목	X-선 형광분석기10:00~12:00[대기] 장비명[분석용]X-선 형광분석기 예약일시2024-10-10 10:00:00 ~ 2024-10-10 12:00:00 [대기] 예약자금윤형 (한국생산기술연구원) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)11:00~13:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2024-10-10 11:00:00 ~ 2024-10-10 13:00:00 [대기] 예약자차지민 (한국생산기술연구원) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)13:00~18:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2024-10-10 13:00:00 ~ 2024-10-10 18:00:00 [대기] 예약자정주리 (한국생산기술연구원) 실험목적 X-선 형광분석기14:00~16:00[대기] 장비명[분석용]X-선 형광분석기 예약일시2024-10-10 14:00:00 ~ 2024-10-10 16:00:00 [대기] 예약자김지은 (한국생산기술연구원) 실험목적 C/S분석기14:00~17:00[대기] 장비명[분석용]C/S분석기 예약일시2024-10-10 14:00:00 ~ 2024-10-10 17:00:00 [대기] 예약자김지은 (한국생산기술연구원) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)15:00~18:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2024-10-10 15:00:00 ~ 2024-10-10 18:00:00 [대기] 예약자Ammad Ali (KITECH) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)18:00~22:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2024-10-10 18:00:00 ~ 2024-10-10 22:00:00 [대기] 예약자김율희 (한국생산기술연구원) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)23:00~01:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2024-10-10 23:00:00 ~ 2024-10-11 01:00:00 [대기] 예약자김율희 (한국생산기술연구원) 실험목적
2024-10-11	금	X선 회절분석기(HT-XRD)14:00~23:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2024-10-11 14:00:00 ~ 2024-10-11 23:00:00 [대기] 예약자김종태 (한국생산기술연구원) 실험목적
2024-10-12	토
2024-10-13	일
2024-10-14	월	ONH분석기09:00~13:00[대기] 장비명[분석용]ONH분석기 예약일시2024-10-14 09:00:00 ~ 2024-10-14 13:00:00 [대기] 예약자주원 (한국생산기술연구원) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)13:00~15:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2024-10-14 13:00:00 ~ 2024-10-14 15:00:00 [대기] 예약자권순재 ((주)그린첨단소재) 실험목적
2024-10-15	화	FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)10:00~12:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2024-10-15 10:00:00 ~ 2024-10-15 12:00:00 [대기] 예약자양현주 ((주)하이덴코코리아) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)14:00~17:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2024-10-15 14:00:00 ~ 2024-10-15 17:00:00 [대기] 예약자김명윤 (한국나노오트) 실험목적
2024-10-16	수	휴대용 X선 형광분석기09:00~13:00[대기] 장비명[분석용]휴대용 X선 형광분석기 예약일시2024-10-16 09:00:00 ~ 2024-10-16 13:00:00 [대기] 예약자홍순호 (한양대학교) 실험목적
2024-10-17	목	FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)10:00~12:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2024-10-17 10:00:00 ~ 2024-10-17 12:00:00 [대기] 예약자배장현 (한국생산기술연구원) 실험목적
2024-10-18	금	FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)10:00~12:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2024-10-18 10:00:00 ~ 2024-10-18 12:00:00 [대기] 예약자함승훈 (신영금속(주)) 실험목적
2024-10-19	토
2024-10-20	일
2024-10-21	월
2024-10-22	화
2024-10-23	수
2024-10-24	목
2024-10-25	금
2024-10-26	토
2024-10-27	일
2024-10-28	월
2024-10-29	화
2024-10-30	수
2024-10-31	목